تفاصيل الوثيقة نوع الوثيقة : مقال في مجلة دورية  عنوان الوثيقة : Resolution degradation of semiconductor detectors Resolution degradation of semiconductor detectors   الموضوع : Resolution degradation of semiconductor detectors  لغة الوثيقة : الانجليزية  المستخلص : Incomplete charge collection in semiconductor X-ray detectors due to carrier trapping is recognized as an important source of signal broadening. In this paper we show the results of calculations of energy resolution for a TlBr detector usingan analytic approach developed in our earlier work in which fluctuations in the distribution of photon absorption sites are related to fluctuations in the collected charge. Using measured values of transport parameters for electrons and holes in the detector material we obtained excellent agreement with experiment in the X-ray energy range 6–660 keV. r 2005 Elsevier B.V. All rights reserved.  ردمد : 0168-9002  اسم الدورية : Nuclear Instruments and Methods in Physics Research  المجلد : 546  العدد : 2  سنة النشر : 1426 هـ 2005 م  عدد الصفحات : 4  نوع المقالة : مقالة علمية  تاريخ الاضافة على الموقع : Monday, June 15, 2009  الباحثون اسم الباحث (عربي) اسم الباحث (انجليزي) نوع الباحث المرتبة العلمية البريد الالكتروني Alexander G. Alexander G. باحث رئيسي دكتوراه   J. Keith J. Keith باحث مشارك دكتوراه   Owens Owens باحث مشارك دكتوراه   den Hartog den Hartog باحث مشارك دكتوراه   Peacock Peacock باحث مشارك دكتوراه   Al-Jawhari Al-Jawhari باحث مشارك دكتوراه   الرجوع إلى صفحة الأبحاث