الصفحة الرئيسية
عن الكلية
عمادة الكلية
كلمة عميد الكلية
نبذة عن العمادة
العمداء السابقون
وكالات الكلية
وكالة الكلية
كلمة وكيل الكلية
نبذة عن وكالة الكلية
وكالة الكلية للدراسات العليا
كلمة وكيل الكلية للدراسات العليا
نبذة عن وكالة الكلية للدراسات العليا
الأنشطة العلمية
وحدة ريادة الأعمال
وحدة الجودة والتطوير
شعبة الإعتماد الأكاديمي
شعبة الجودة
شعبة القياس والتقويم
شعبة التدريب وتطوير الموارد البشرية
وكالة الكلية (شطر الطالبات)
إدارة الكلية
كلمة مدير الإدارة
كلمة مديرة الإدارة
إدارة الكلية شطر الطلاب
إدارة الكلية شطر الطالبات
الخطة الاستراتيجية
الشؤون التعليمية
مواقع التدريب التفاعلي
البحث العلمي
الأبحاث
مجلة كلية العلوم
تواصل معنا
الملفات
عربي
English
عن الجامعة
القبول
الأكاديمية
البحث والإبتكار
الحياة الجامعية
الخدمات الإلكترونية
صفحة البحث
كلية العلوم
تفاصيل الوثيقة
نوع الوثيقة
:
مقال في مجلة دورية
عنوان الوثيقة
:
Heat-treatment effect on the structural and optical properties of flash evaporated Sb2 Te3 thin films
Heat-treatment effect on the structural and optical properties of flash evaporated Sb2 Te3 thin films
الموضوع
:
فيزياء
لغة الوثيقة
:
الانجليزية
المستخلص
:
The effect of thickness and heat treatment on the structural and optical properties of Sb2Te3 thin films fabricated by using flash evaporation technique were investigated. The as-deposited films were found to be stoichiometric. For the as-deposited and annealed samples of thickness in the range of 20.7-120.5 nm, large variations in transmittance and reflectance were observed for wavelength below 2000 nm due to strong absorption, while slight variations were observed above 2000 nm. The optical constants, n and k, measured in the range of 500-4000 nm, increased slightly by annealing the samples at 573 K for 2 h in air and a red shift was observed. Allowed indirect transitions were observed for the as-deposited and the annealed samples. The results showed two energy gaps for these transitions varied from 0.28 to 0.31 eV for the as-deposited samples and from 0.56 to 0.54 eV for the annealed films. The spectral distribution of the real part of the dielectric constant ́ showed a maximum at 0.73 eV for the as-deposited films decreased to 0.65 eV by annealing. © EDP Sciences.
ردمد
:
1286-0042
اسم الدورية
:
EPJ Applied Physics, Volume 44, Issue 1, October 2008, Pages 59-64
المجلد
:
44
العدد
:
1
سنة النشر
:
2008 هـ
2008 م
عدد الصفحات
:
5
نوع المقالة
:
مقالة علمية
تاريخ الاضافة على الموقع
:
Thursday, October 15, 2009
الباحثون
اسم الباحث (عربي)
اسم الباحث (انجليزي)
نوع الباحث
المرتبة العلمية
البريد الالكتروني
Soliman, H.S
Soliman, H.S
باحث
دكتوراه
سعود جميل مصطفى يغمور
Yaghmour, S.J
باحث
دكتوراه
syaghmour@kau.edu.sa
Al-Solami, H.G
Al-Solami, H.G
باحث
دكتوراه
الرجوع إلى صفحة الأبحاث