الصفحة الرئيسية
عن الكلية
عمادة الكلية
كلمة عميد الكلية
نبذة عن العمادة
العمداء السابقون
وكالات الكلية
وكالة الكلية
كلمة وكيل الكلية
نبذة عن وكالة الكلية
وكالة الكلية للدراسات العليا
كلمة وكيل الكلية للدراسات العليا
نبذة عن وكالة الكلية للدراسات العليا
الأنشطة العلمية
وحدة ريادة الأعمال
وحدة الجودة والتطوير
شعبة الإعتماد الأكاديمي
شعبة الجودة
شعبة القياس والتقويم
شعبة التدريب وتطوير الموارد البشرية
وكالة الكلية (شطر الطالبات)
إدارة الكلية
كلمة مدير الإدارة
كلمة مديرة الإدارة
إدارة الكلية شطر الطلاب
إدارة الكلية شطر الطالبات
الخطة الاستراتيجية
الشؤون التعليمية
مواقع التدريب التفاعلي
البحث العلمي
الأبحاث
مجلة كلية العلوم
تواصل معنا
الملفات
عربي
English
عن الجامعة
القبول
الأكاديمية
البحث والإبتكار
الحياة الجامعية
الخدمات الإلكترونية
صفحة البحث
كلية العلوم
تفاصيل الوثيقة
نوع الوثيقة
:
مقال في مجلة دورية
عنوان الوثيقة
:
Linear and nonlinear optical investigations of nano-scale Sidoped ZnO thin films: spectroscopic approach
Linear and nonlinear optical investigations of nano-scale Sidoped ZnO thin films: spectroscopic approach
الموضوع
:
physics
لغة الوثيقة
:
الانجليزية
المستخلص
:
Pure and Si-doped ZnO (SZO) thin films at different concentration of Si (1.9 and 2.4 wt%) were deposited on highly cleaned glass substrate by radio frequency (DC/RF) magnetron sputtering. The morphological and structural investigations have been performed by atomic force electron microscope (AFM) and X-ray diffraction (XRD). The X-ray photoelectron spectroscopy was employed to study the composition and the change in the chemical state of Si-doped ZnO thin films. The optical observations like transmittance, energy band gap, extinction coefficient, refractive index, dielectric loss of pure and Si-doped ZnO thin films have been calculated. The linear optical susceptibility, nonlinear refractive index, and nonlinear optical susceptibility were also studied by the spectroscopic approach rather than conventional Z-scan method. The energy gap of Si-doped ZnO thin films was found to increase as compared to pure ZnO thin films. The crystallinity of the ZnO thin films was effected by the Si doping. The O1s spectra in pure and Si-doped ZnO revealed the bound between O-2 and Zn+2 ions and reduction in the surface oxygen with the Si doping. The chemical state analysis of Si 2p showed the conversation of Si to SiOx and SiO2. The increase in the first-order linear optical susceptibility chi((1)) and third-order nonlinear optical susceptibility chi((3)) was observed with the Si doping. The nonlinear studies gave some details about the applications of metal oxides in nonlinear optical devices. In short, this study showed that Si doping through sputtering has effected on the structural, surface and optical properties of ZnO thin films which could be quite useful for advanced applications such as metal-oxidebased optical devices.
ردمد
:
0947-8396
اسم الدورية
:
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING
المجلد
:
122
العدد
:
9
سنة النشر
:
1437 هـ
2016 م
نوع المقالة
:
مقالة علمية
تاريخ الاضافة على الموقع
:
Wednesday, August 9, 2017
الباحثون
اسم الباحث (عربي)
اسم الباحث (انجليزي)
نوع الباحث
المرتبة العلمية
البريد الالكتروني
Asim) Jilani,
Jilani,, Asim)
باحث رئيسي
دكتوراه
asim.jilane@gmail.com
M. Sh Abdel-wahab
Abdel-wahab, M. Sh
باحث مشارك
دكتوراه
H.Y Zahran
Zahran, H.Y
باحث
A.A Al-Ghamdi,
Al-Ghamdi, A.A
باحث مشارك
دكتوراه
الملفات
اسم الملف
النوع
الوصف
42539.pdf
pdf
الرجوع إلى صفحة الأبحاث